描述:執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T1764-89 、 GB/T13452.2-92 、 ISO2808-74 本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
QCC-A 磁性測(cè)厚儀
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T1764-89 、 GB/T13452.2-92 、 ISO2808-74 本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù):
1 、測(cè)定范圍: O-500μm
2 、測(cè)量精度: 40μm 以下±2μm 40μm 以上±5%